硫化鎳礦石中的雜質(zhì)含量如何檢測(cè)？ (含譜圖) 發(fā)布日期：2017-10-27 18:05:53 文章來(lái)源：萊雷科技
手持式X射線(xiàn)熒光（XRF）分析儀提供高性能，實(shí)時(shí)的地球化學(xué)數(shù)據(jù)，用于快速多元素表征土壤，巖石和礦石。 手持式XRF技術(shù)的最新進(jìn)展大大提高了檢測(cè)下限，增加了測(cè)量元素的數(shù)量，大大降低了分析測(cè)試時(shí)間。 當(dāng)用于礦物勘探和等級(jí)評(píng)估時(shí)，DELTA手持XRF分析儀可以提供在土壤，鉆屑和鉆芯樣品中發(fā)現(xiàn)的鎳（Ni）的實(shí)時(shí)分析。
圖一硫化鎳礦石
手持式礦石分析儀用于世界各地監(jiān)測(cè)活躍露天礦和地下礦山的礦石品位。 具體來(lái)說(shuō)，手持式礦石分析儀可精確測(cè)量NiS沉積物中不需要的元素的濃度。 NiS沉積物中的砷（As），鉛（Pb），鉍（Bi）和鋅（Zn）等元素的存在與濃度影響沉積物的冶煉。 高Fe：MgO比優(yōu)于富含Mg的礦物如滑石和纖維蛇紋石，這對(duì)于常規(guī)工藝回路可能是有問(wèn)題的，并且顯著地影響回收質(zhì)量。XRF分析儀可以減少在實(shí)驗(yàn)室中使用氫氟酸來(lái)分析其中的一些元素，如As。這使得礦場(chǎng)實(shí)驗(yàn)室的工作環(huán)境更安全。
DELTA手持式X射線(xiàn)熒光（XRF）分析儀可以在NiS礦山，礦井實(shí)驗(yàn)室和Ni處理設(shè)施內(nèi)提供方便，快速的測(cè)量與NiS勘探相關(guān)的許多類(lèi)型的樣品。DELTA手持式XRF分析儀可以提供即時(shí)的結(jié)果，幫助確定整個(gè)過(guò)程的下一步行動(dòng) - 勘探，礦石等級(jí)/過(guò)程控制，環(huán)境可持續(xù)性。 現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)金屬，礦物質(zhì)和污染物，節(jié)省時(shí)間，節(jié)約成本。如下圖所示，DELTA Premium手持礦石分析儀的結(jié)果與認(rèn)證值顯示出良好的相關(guān)性，分析結(jié)果與認(rèn)證值非常接近，精確度和準(zhǔn)確度很好。
圖二硫化鎳礦石所含雜質(zhì)圖譜
