金屬鍍層測(cè)厚儀的具體分類 發(fā)布日期：2022-10-26 11:51:44 文章來源：萊雷科技
測(cè)厚儀有很多種類，測(cè)厚原理的方法也是不同的，為了方便運(yùn)用合適的側(cè)厚原理方法，接下來小編說說金屬鍍層測(cè)厚儀測(cè)量原理的幾種類型。金屬鍍層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以很好地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。
金屬鍍層測(cè)厚儀中主要有兩種類型的探測(cè)器：比例計(jì)數(shù)器和基于半導(dǎo)體的探測(cè)器，如SDD探測(cè)器。上述兩種探測(cè)器都具有自身的優(yōu)點(diǎn)，可按照具體需求加以選擇。比例計(jì)數(shù)器：此類探測(cè)器是充裝惰性氣體的金屬桶柱，當(dāng)其受到X射線照射時(shí)會(huì)發(fā)生電離。電離氣體會(huì)產(chǎn)生與吸收的能量成正比的信號(hào)。它們應(yīng)用于最早期的鍍層分析儀，且至今仍得到廣泛應(yīng)用。
金屬鍍層測(cè)厚儀比例計(jì)數(shù)器硅漂移探測(cè)器：存在多種不同的半導(dǎo)體探測(cè)器，但我們會(huì)考慮使用硅漂移探測(cè)器或SDD，因?yàn)樗亲畛Ｒ姷囊环N探測(cè)器。當(dāng)SDD受到X射線照射時(shí)，探測(cè)器材料發(fā)生電離，產(chǎn)生一定數(shù)量的電荷。電荷量與樣品中的元素含量相關(guān)。
金屬鍍層測(cè)厚儀硅漂移探測(cè)器本質(zhì)上而言，鍍層測(cè)厚儀比例計(jì)數(shù)器（PC）對(duì)于元素種類很少的簡(jiǎn)單分析而言非常有效。它們可以提高錫或銀等高能量元素的靈敏度，尤其是使用小型準(zhǔn)直器測(cè)量時(shí)，而SDD則更適合用于磷。比例計(jì)數(shù)器的成本低于SDD型的成本。但SDD可提供更好的分辨率——即測(cè)量譜圖會(huì)更清晰。如果樣品中存在幾個(gè)元素，則這一特點(diǎn)更顯得非常重要。
