ROHS分析儀的工作原理及優(yōu)勢(shì)分析 發(fā)布日期：2020-05-08 18:23:12 文章來源：萊雷科技
許多ROHS分析儀用戶可能不太清楚該儀器完成操作所基于的應(yīng)用原理。這就是我們今天將在這里向你們介紹的XRF 光光譜儀的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)。X射線螢石光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和檢測系統(tǒng)組成。
X射線管產(chǎn)生入射X射線(曾經(jīng)是X射線)來激發(fā)被測樣品。受激樣品中的每個(gè)元素發(fā)射二次X射線，不同元素發(fā)射的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些發(fā)射的次級(jí)X射線的能量和數(shù)量
然后，儀器軟件將檢測系統(tǒng)收集的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的類型和含量。關(guān)于X射線螢石光光譜儀，的技術(shù)原理，我們將更多介紹X射線螢石光光譜儀如何完成ROHS受管制元素的分析。
讓我們來看看光光譜儀熒石的優(yōu)勢(shì)和劣勢(shì)
光光譜儀氟石的優(yōu)勢(shì)主要由六個(gè)部分組成，它們是：
1.高分析速度
測定時(shí)間與測定精度有關(guān)，但通常很短。鉛、鎘、鉻、汞、溴、氯和樣品中的待測元素可在60-200分鐘內(nèi)測定。
2.X射線熒光光譜與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)
X射線熒光光譜與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，也與固體、粉末、液體、晶體、無定形和其他物質(zhì)的狀態(tài)無關(guān)。(氣體密封也可以在容器中進(jìn)行分析)但是，在高分辨率精密測量中，可以看到波長變化和其他現(xiàn)象。尤其是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效果更為顯著。波長變化用于測定化學(xué)勢(shì)。
3.化學(xué)狀態(tài)的變化
無損分析不會(huì)導(dǎo)致測定中化學(xué)狀態(tài)的變化或樣品散射。同一樣品可重復(fù)測量，重現(xiàn)性好。
4.物理分析
X射線熒光分析是一種物理分析方法，因此在化學(xué)性質(zhì)上屬于同一組的元素也可以被分析。
5.高分析精度。
樣品制備簡單，可以分析固體、粉末和液體樣品。
雖然XRF-光光譜儀只有三個(gè)缺點(diǎn)，它們是：
（1）很難進(jìn)行絕對(duì)分析，因此需要標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行定量分析。
（2）對(duì)光元素的敏感度較低。
（3）它容易受到相互元素干涉和疊加的影響。
